Prestaciones

Difracción de Rayos X Monocristal

  • Realización de experimentos de difracción de Rayos X en materiales monocristalinos
  1. Toma de datos a temperatura ambiente.
  2. Toma de datos a baja temperatura:
    • Hasta 90 K, utilizando nitrógeno líquido
    • Hasta 15 K, utilizando helio líquido.
  • Disponibilidad de radiación de rayos X de varias longitudes de onda:
  1. Radiación de Mo (tubo sellado, foco fino): difractómetro Nonius KappaCCD.
  2. Radiación de Cu (microfoco): difractómetro Oxford Diffraction Xcalibur Nova.
  • Resolución estructural completa de muestras cristalinas.Incluye:
  1. Selección y montaje del cristal
  2. Estudios previos de simetría
  3. Recogida de datos o Resolución y refinamiento estructural
  4. Análisis de resultados

Difracción de Rayos X de Polvo Cristalino

  • Diagramas de difracción de polvo a temperatura ambiente
  1. Con ánodo de Cu (difractometro PANalytical X´Pert Powder) en el rango angular en 2theta entre 5 y 140º.
  2. Con ánodo de Mo (difractometro Seifert XRD 3000TT) en el rango angular ente 2 y 160º.
  • Alta resolución angular
  1. Desplazamiento del ánodo a 330 mm con anchura total a mitad de altura (FWMH) de la reflexión (111) del Si de 0.04º.
  2. Eliminación de la línea K-alpha2 mediante monocromador Johansson.
  • Termodifracción de alta temperatura
  1. Mediante cámara Anton Paar HTK 1200N cubriendo el rango térmico entre 25 y 1200ºC.
  • Estudio de macrotensiones y texturas
  1. Gracias a cuna euleriana con cuatro ángulos de libertad y desplazamiento en altura.
  • Análisis de ensayos de difracción de polvo (ver catálogo en la sección de enlaces).
  1. Identificación de fases.
  2. Análisis semicuantitativos.
  3. Indexación y cálculo de parámetros de red.
  4. Estudio microstructural: tamaño y defectos cristalinos.
  5. Dterminación estructural.
  6. Afinamiento Rietveld


Equipamiento cofinanciado por el Fondo Europeo de Desarrollo Regional (FEDER), con la gestión del Ministerio de Ciencia, Innovación y Universidades.