Equipos

Microscopía electrónica

MET JEOL-2000 EX-II

Microscopio JEOL 2000

Microscopio Electrónico de Transmisión de kilovoltaje máximo 200 kV. Poder de resolución 3,4 amstrong entre líneas. Sistema fotográfico: cámara de placas 6,5x9,5 y película 35 mm, e imagen digitalizada con salida a PC (sistema digital micrograph GATAN). Horario de funcionamiento: 2 turnos diarios de lunes a viernes: de 9:00 a 13:30 y de 15:30 a 17:30.

Sistema digital de captación de imágenes GATAN para el MET JEOL-2000 EX-II

Permite la obtención de imágenes digitales para su almacenamiento en soporte CD y la visualización directa en monitor (On Line).
Asimismo, incorpora en cada imagen captada una unidad de medida, pudiendo también medir áreas, contornos o zonas determinadas de la imagen. Admite diversos métodos de trabajo: captación directa de las imágenes, captación lenta con enfoque directo, rotación y ampliación directa, etc.
El servicio dispone del programa Gatan Digital Micrograph, en formato CD, para que pueda ser instalado en el ordenador de los investigadores usuarios del equipo.

Modelo: MICROMAX 1300 YHS-DIF. Formato de imagen: 1300x1030. Tamaño de pixel: 6,7x6,7 µm. Tipo de CCD: 5 MHz, Interline, DIFF. Con salida a: Ordenador de control DELL con sistema operativo Windows 2000 Professional. Programa de captación de imágenes: Gatan Digital Micrograph. Sistema de visualización On Line: Mediante monitor Pelco de 12" controlado vía ordenador DELL.

sistema digital de captación de imágenes

MET JEOL 1011

MET_JEOL_1011

Microscopio Electrónico de Transmisión JEOL 1011, kilovoltaje de 100KV, sistema de fotografía que incorpora una cámara digital de 11 Mpixels( Gatan ) y dispositivo de placas, se emplea básicamente para trabajos en Biomedicina, nos permite alcanzar los 600.000 aumentos y tiene un poder de resolución entre puntos de 0.4nm y entre lineas de 0.2nm.

Horario de funcionamiento:
2 turnos diarios de lunes a viernes: de 10:00 a 14:30 y de 17:00 a 19:00.

MEB JEOL-6100 con microanálisis

MEB JEOL-6100. Microscopio Electrónico de Barrido convencional, con cañón electrónico de filamento de wolframio, de 0,3 a 30 kV, y 4 nm de resolución teórica (imágenes hasta x50.000) a 8 mm de WD. Dotado con detector de electrones secundarios y detector de electrones retrodispersados. Cámara fotográfica con película de 6x7 y fotoimpresora térmica Sony (UP-890 CE), pudiendo también obtenerse imágenes digitales (TIFF o JPG) en el disco duro de un PC. Horario de funcionamiento del Servicio: 3 turnos diarios de lunes a viernes: de 9:30 a 11:30, de 12:00 a 13:30, y de 15:00 a 16:30.

MEB JEOL-6100

Microanálisis INCA Energy 200

Con detector de silicio de 138 eV de resolución a 5,9 keV y ventana ultrafina que permite detección y análisis de ultraligeros (C, N, O...).

Permite seleccionar para análisis puntos o áreas sobre imagen microscópica. Tiene rutinas para análisis cuantitativos, mapping's y linescan's, y tratamiento de imágenes. Funciona integrado en el MEB JEOL-6100.

MEB JEOL-6610LV con microanálisis

Microscopio Electrónico de Barrido con cañón de electrones de filamento de wolframio, con posibilidad de trabajo de 0,5 a 30 kV y una resolución máxima de 3.0 nm. Desde x5 hasta x50.000 aumentos. Puede trabajar en modos de alto vacío para máxima resolución y de bajo vacío para muestras con humedad o de superficie no conductora. Dotado de detectores de electrones secundarios y de electrones retrodispersados (composición, topografía y sombreado). Pletina eucéntrica mecánica asíncrona de 5 ejes con rotación e inclinación eucéntricas, que puede albergar muestras de hasta 20 cm de diámetro. Totalmente informatizado, se maneja a través de un PC, con auto archivo de imágenes en formatos BMP, TIFF o JPG.

Horario de funcionamiento del Servicio: 3 turnos diarios de lunes a viernes: de 9:30 a 11:30, de 12:00 a 13:30, y de 15:00 a 16:30.

MEB JEOL 6100-LV.jpg - 100.37 KB

 

Microanálisis INCA Energy 350 - Xmax 50

Equipo de microanálisis integrado en el microscopio MEB JEOL-6610LV. Con detector SDD modelo Xmax 50 con resolución de energías inferior a 125 eV a 5,9 keV y a 20.000 cps, y área activa de 50 mm2. Con ventana ultra fina que permite detección y análisis de ultraligeros (C, N, O...).

Un completo software de análisis de la señal del detector permite entre otras posibilidades seleccionar sobre la imagen microscópica puntos o áreas para análisis, rutinas para análisis cuantitativos, mapping´s, linescan´s, etc.

Los usuarios pueden descargar los ficheros para instalar en sus equipos informáticos una versión del programa Inca para el estudio off-line de los datos obtenidos con este equipo, en la dirección web

Instalacion_microanalisis.zip

JEOL JEM-2100

Este microscopio de 200 kV, está equipado con un cañón de emisión de campo (FEG), proporcionando alto brillo y estabilidad del haz de electrones, que junto a la incorporación de una lente objetivo de alta resolución, permite alcanzar una resolución de 1,9 Å entre puntos y 1.0 Å entre líneas. Además, está equipado con una cámara CCD de alta resolución (Gatan), un microanalizador por energía de rayos X dispersados (EDX) que permite la detección y cuantificación de los elementos presentes, una unidad de barrido por transmisión (STEM) con detectores de campo claro (BF) y campo oscuro (DF), que permite obtener mapas de composición de las muestras, un sistema de filtro de energías post columna (GIF) para la adquisición de imágenes filtradas, un espectrómetro de pérdida de energía de electrones (EELS), y sistema de precesión del haz para difracción de electrones. Asimismo, Este microscopio está dotado de portamuestras versátiles para realizar diferentes tipos de experimentos: a) estándar de inclinación simple (±35º), b) de berilio de bajo fondo y doble inclinación (x="±35º;" y="±30º)" necesario para el estudio de la red recíproca y para microanálisis, c) de alto ángulo de inclinación (±80º) para uso en tomografía, técnica que permite el estudio morfológico de las muestras en tres dimensiones, d) de baja temperatura con enfriamiento mediante nitrógeno líquido (rango: 100-380 K) y doble ángulo de inclinación, y e) de alta temperatura (hasta 700 ºC) y doble ángulo de inclinación.

La Unidad también dispone de equipos de preparación de muestras previo a su estudio microscópico:

  1. cortador de muestras de 3 mm de diámetro mediante ultrasonidos
  2. pulidora mecánica para devastado y pulido cóncavo
  3. pulidora por bombardeo iónico de precisión
  4. sistema de limpieza de portamuestras mediante plasma.
  5. Equipos Complementarios

    • Desbastadores de resinas

    Piramitomo y Ultratrim LKB

    • Ultra-microtomos

    LKB III, LKB V y Reichert Ultracut

    • Cortadores de cuchillas de vidrio

    LKB Knifemaker

    • Metalizadores

    De oro: Sputtering Balzers SCD 004; de carbono: Polarón CC 7650; de oro-paladio: Sputtering Polarón, SC7640 (BOS)

    • Deshidratadores por Punto Crítico

    Critical Point Dryer Balzers CPD 030; Polarón, CPD7501 (BOS)

    Otros Equipos

    • Criostato Frigocut N-2800
    • Microscopio óptico Nikon
    • Lupa esteoroscópica Zeiss
    • Laboratorio fotográfico

    Gijón

    Equipos Básicos

    Microscopio Electrónico de barrido JEOL, modelo JSM 5600.

    Sus principales características son las siguientes: Voltaje de aceleración desde 0,5 hasta 30 kV. Modos de imagen por electrones secundarios (SEI) y por electrones retrodispersados (BEI). Resolución en imagen de electrones secundarios, en modo "High-Vac" de hasta 3,5 nm. Aumentos desde 18 a 300.000 a una WD="48" mm. Digitalización de imagen 2.560 X 1.920 con salida por Internet/ Intranet e impresora de alta resolución en color. Inicialmente preparado para muestras conductoras, admitiría muestras no conductoras previo desecado y metalización (sombreado).

    Microscopio JEOL JSM 5600

    Microanalizador por energía dispersiva de rayos X Oxford, mod Inca Energy 200.

    Provisto de detector de Si (Li); Área de detección de 10 mm2, resolución de 138 eV, con un rango elemental de detección que va desde el Be hasta el U. Por medio del software incorporado permite: mapeado de elementos; Análisis de la distribución elemental en una línea de barrido o sobre la totalidad del campo; comparación de espectros y una, relativamente precisa, cuantificación. Así mismo, el ordenador de control viene provisto de un sencillo software para análisis de imagen.

    Equipos Complementarios

    • Equipo de pulverización catódica Bal-Tec, modelo SCD 005 (Coll Sputtering Device), que permite:
    1. Preparación de recubrimientos conductores en probetas para SEM mediante pulverización en frío de oro / oro-paladio.
    2. Preparación de recubrimientos conductores de carbono en muestras dispuestas para microanálisis (EDX), mediante unidad de evaporación de carbón.

    Otros Equipos

    • Los convencionales para corte, desbaste y pulido de probetas como parte de la dotación estándar del laboratorio de Ciencias de Materiales.

Enlaces rápidos

El equipamiento de estas instalaciones está cofinanciado por el Fondo Europeo de Desarrollo Regional (FEDER), con la gestión del Ministerio de Economía y Competitividad.

El equipamiento de estas instalaciones está cofinanciado por el Fondo Europeo de Desarrollo Regional (FEDER), con la gestión del Ministerio de Economía y Competitividad.